Em análises profundidade de LEDs por uma combinação de raios-X Tomografia Computadorizada (CT) e Microscopia de Luz (LM) correlacionada com Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV)
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June 16th, 2016
DOI :
June 16th, 2016
•Capítulos neste vídeo
0:05
Title
1:14
Performance of Computed Tomography (CT) Scan
3:07
Micro Preparation
5:06
Light Microscopy (LM) Measurement Setup
6:15
Light Microscopy Characterization
7:16
Scanning Electron Microscopy (SEM) Analysis
8:32
Results: Comprehensive Micro-characterization of an Active Light Emitting Diode
9:49
Conclusion
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