Los análisis en profundidad de los LEDs mediante una combinación de rayos-X de tomografía computarizada (TC) y la microscopía de luz (LM) correlacionado con microscopía electrónica de barrido (SEM)
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.
9.2K Views
•
10:42 min
•
June 16th, 2016
DOI :
June 16th, 2016
•Capítulos en este video
0:05
Title
1:14
Performance of Computed Tomography (CT) Scan
3:07
Micro Preparation
5:06
Light Microscopy (LM) Measurement Setup
6:15
Light Microscopy Characterization
7:16
Scanning Electron Microscopy (SEM) Analysis
8:32
Results: Comprehensive Micro-characterization of an Active Light Emitting Diode
9:49
Conclusion
Videos relacionados
07:54
Preparación de células adherentes, por Imágenes de fluorescencia de rayos X por Química Fijación
9.3K Views
10:00
La tomografía de rayos X de energía dispersiva de 3D Mapping elemental de nanopartículas individuales
11.7K Views
08:11
Análisis de Falla en Baterías Utilizando Microtomografía duro de rayos X a base de Sincrotrón
8.8K Views
08:46
El uso de la radiación del sincrotrón Microtomografía encargado de investigar multi-escala Paquetes microelectrónicos tridimensionales
10.0K Views
07:03
Catodoluminiscencia de baja energía para (Oxy) Los fósforos de nitruro
10.6K Views
11:14
Caracterización integral de defectos extendidos en materiales semiconductores por un microscopio electrónico de barrido
13.6K Views
10:12
Rayos x de sincrotrón Microdiffraction y proyección de imagen de fluorescencia de las muestras de rocas y minerales
8.9K Views
06:56
Análisis del núcleo del árbol con tomografía computarizada de rayos X
929 Views
06:56
Análisis del núcleo del árbol con tomografía computarizada de rayos X
929 Views
06:56
Análisis del núcleo del árbol con tomografía computarizada de rayos X
929 Views
ACERCA DE JoVE
Copyright © 2025 MyJoVE Corporation. Todos los derechos reservados