В Depth Анализы светодиодов с помощью комбинации рентгеновской компьютерной томографии (КТ) и световой микроскопии (LM) коррелируют с сканирующей электронной микроскопии (SEM)
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.
9.2K Views
•
10:42 min
•
June 16th, 2016
DOI :
June 16th, 2016
•Смотреть дополнительные видео
Главы в этом видео
0:05
Title
1:14
Performance of Computed Tomography (CT) Scan
3:07
Micro Preparation
5:06
Light Microscopy (LM) Measurement Setup
6:15
Light Microscopy Characterization
7:16
Scanning Electron Microscopy (SEM) Analysis
8:32
Results: Comprehensive Micro-characterization of an Active Light Emitting Diode
9:49
Conclusion
Похожие видео
07:54
Подготовка прилипшие клетки для рентгеновской флуоресценции изображений по химической фиксации
9.3K Views
10:00
Энергия рентгеновской томографии для 3D Elemental карт индивидуальных наночастицами
11.7K Views
08:11
Анализ отказов батарей с использованием синхротронного основе жесткого рентгеновского микротомография
8.8K Views
08:46
С использованием синхротронного излучения микротомография Расследования многомасштабном Трехмерные Микроэлектронные пакеты
10.0K Views
07:03
Низкоэнергетическая Катодолюминесценция для (OXY), нитрид люминофоров
10.6K Views
11:14
Исчерпывающая характеристика протяженных дефектов в полупроводниковых материалах на растровом электронном микроскопе
13.6K Views
10:12
Синхротрона рентгеновских Microdiffraction и флуоресценции изображений минеральных и образцов скальных пород
8.9K Views
06:56
Анализ древовидных кернов с помощью рентгеновской компьютерной томографии
927 Views
06:56
Анализ древовидных кернов с помощью рентгеновской компьютерной томографии
927 Views
06:56
Анализ древовидных кернов с помощью рентгеновской компьютерной томографии
927 Views
Авторские права © 2025 MyJoVE Corporation. Все права защищены