In analisi di profondità di LED da una combinazione di raggi X Tomografia Computerizzata (TC) e microscopia ottica (LM) correlata con microscopia elettronica a scansione (SEM)
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.
9.2K Views
•
10:42 min
•
June 16th, 2016
DOI :
June 16th, 2016
•Capitoli in questo video
0:05
Title
1:14
Performance of Computed Tomography (CT) Scan
3:07
Micro Preparation
5:06
Light Microscopy (LM) Measurement Setup
6:15
Light Microscopy Characterization
7:16
Scanning Electron Microscopy (SEM) Analysis
8:32
Results: Comprehensive Micro-characterization of an Active Light Emitting Diode
9:49
Conclusion
Video correlati
07:54
Preparazione cellule aderenti per X-ray Fluorescence Imaging da Chemical Fixation
9.3K Views
10:00
Tomografia a dispersione di energia dei raggi X per il 3D Elemental mappatura delle nanoparticelle individuali
11.7K Views
08:11
Failure Analysis delle batterie a base di sincrotrone Utilizzando raggi X duri microtomografia
8.8K Views
08:46
L'utilizzo delle radiazioni al sincrotrone microtomografia a indagare multi-scala Pacchetti microelettronici tridimensionali
10.0K Views
07:03
Catodoluminescenza a basso consumo energetico per (Oxy) Fosfori nitruro
10.6K Views
11:14
Caratterizzazione completa dei difetti estesi in materiali semiconduttori da un microscopio elettronico a scansione
13.6K Views
10:12
Microdiffrazione dei raggi x di sincrotrone e formazione immagine di fluorescenza del minerale e campioni di roccia
8.9K Views
06:56
Analisi del nucleo dell'albero con tomografia computerizzata a raggi X
927 Views
06:56
Analisi del nucleo dell'albero con tomografia computerizzata a raggi X
927 Views
06:56
Analisi del nucleo dell'albero con tomografia computerizzata a raggi X
927 Views
Personale delle biblioteche
Copyright © 2025 MyJoVE Corporation. Tutti i diritti riservati