JoVE Logo

Войдите в систему

Целевые исследования с использованием серийного блока лица и целенаправленной ионного луча сканирования электронной микроскопии

9.1K Views

09:09 min

August 10th, 2019

DOI :

10.3791/59480-v

August 10th, 2019


Транскрипт

Смотреть дополнительные видео

150

Главы в этом видео

0:04

Title

0:51

Sample Fixation and Processing for Electron Microscopy

3:51

Prepare Embedded Samples for Imaging

5:03

Imaging in the SBF-SEM (Serial Block Face Scanning Electron Microscopy) and Data Processing

6:22

Imaging in the FIB-SEM (Focused Ion Beam SEM)

7:49

Results: SBF-SEM and FIB-SEM Data

8:46

Conclusion

Похожие видео

article

08:57

Сосредоточены ионного пучка фрезерные и сканирующей электронной микроскопии ткани мозга

27.9K Views

article

09:46

Метод для получения последовательного ультратонких разделы микроорганизмов в просвечивающей электронной микроскопии

14.1K Views

article

11:19

Смешанных иерархических изображений последовательных секций для нахождения конкретных клеточных мишеней в больших объемах

10.3K Views

article

07:47

Анализ мозга Митохондрии Использование последовательного Block-Face сканирующая электронная микроскопия

14.0K Views

article

11:16

Последовательная блочно-лицевая сканирующая электронная микроскопия (SBEM) для исследования дендритных шипов

3.7K Views

article

3D Reconstruction and Analysis of Thin Subcellular Neuronal Structures using Focused-Ion Beam Scanning Electron Microscopy Data

1.0K Views

article

08:04

Подготовка и наблюдение Толстые биологических образцов с помощью сканирующего трансмиссионной электронной томографии

9.2K Views

article

09:47

Рабочий процесс массивной томографии для целенаправленного получения объемной информации с помощью сканирующей электронной микроскопии

4.7K Views

article

09:21

Последовательная блочно-лицевая сканирующая электронная микроскопия (SBF-SEM) образцов биологических тканей

7.4K Views

article

09:12

Трехмерная характеристика межорганизационных контактных участков в гепатоцитах с помощью электронной микроскопии серийного сечения

5.4K Views

JoVE Logo

Исследования

Образование

О JoVE

Авторские права © 2025 MyJoVE Corporation. Все права защищены