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Estudos alvejados usando a cara de bloco de série e a microscopia focalizada da varredura do feixe de íon

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09:09 min

August 10th, 2019

DOI :

10.3791/59480-v

August 10th, 2019


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Biologia

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Title

0:51

Sample Fixation and Processing for Electron Microscopy

3:51

Prepare Embedded Samples for Imaging

5:03

Imaging in the SBF-SEM (Serial Block Face Scanning Electron Microscopy) and Data Processing

6:22

Imaging in the FIB-SEM (Focused Ion Beam SEM)

7:49

Results: SBF-SEM and FIB-SEM Data

8:46

Conclusion

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