JoVE Logo

Войдите в систему

Элементаль чувствительных обнаружение химии в батареи через мягкие рентгеновской спектроскопии поглощения и резонансных неупругого рентгеновского рассеяния

12.6K Views

07:55 min

April 17th, 2018

DOI :

10.3791/57415-v

April 17th, 2018


Смотреть дополнительные видео

134

Главы в этом видео

0:04

Title

1:11

Sample Loading and Experiment Preparation

3:08

Soft X-ray Absorption Spectroscopy (sXAS), Soft X-ray Emission Spectroscopy (sXES), and Resonant Inelastic X-ray Scattering (RIXS) Data Collection

5:28

Results: sXAS, sXES, and RIXS of Lithium-ion and Sodium-ion Battery Materials

7:12

Conclusion

Похожие видео

article

10:03

Характеристика электродных материалов для литий-ионных и натрия-ионных аккумуляторов с использованием методов синхротронного излучения

25.4K Views

article

11:25

В Ситу нейтронной порошковой дифракции Использование пользовательских производства литий-ионных батарей

15.7K Views

article

10:00

Энергия рентгеновской томографии для 3D Elemental карт индивидуальных наночастицами

11.7K Views

article

08:11

Анализ отказов батарей с использованием синхротронного основе жесткого рентгеновского микротомография

8.8K Views

article

10:31

Обнаружение и восстановление палладия, золота и кобальта металлов из рудника городской использующие новые Датчики / адсорбенты Места с наноразмерных Wagon колеса в форме порах

28.0K Views

article

08:18

Протокол испытаний Электрохимический и характеристика апротонных Li-O

11.4K Views

article

14:58

Количественная оценка рентгеновской флуоресценции данных с использованием карты

10.7K Views

article

09:42

Изготовление диполь-вспомогательной твердофазной экстракции микрочип для анализа следов металлов в проб воды

8.6K Views

article

11:03

Наноразмерная характеристика интерфейсов жидкость-твердое вещество путем сопряжения криофокусированного ионного пучка фрезерования со сканирующей электронной микроскопией и спектроскопией

3.4K Views

article

07:20

Скрининг покрытий для цельнотвердотельной батареи с использованием просвечивающей электронной микроскопии in situ

2.5K Views

JoVE Logo

Исследования

Образование

О JoVE

Авторские права © 2025 MyJoVE Corporation. Все права защищены