Compacto holográfica microscopio digital Lente menos por MEMS Inspección y Caracterización
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July 5th, 2016
DOI :
July 5th, 2016
•Capítulos en este video
0:05
Title
1:05
Preparations
3:52
Data Acquisition
5:38
Data Analysis for Static Measurements
6:40
Sample Preparation and Data Analysis for Dynamic Measurements
7:42
Results: CDHM Compared to Atomic Force Microscopy and Other Results
9:17
Conclusion
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