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Compact-Objektiv lose digitale holografische Mikroskop für MEMS-Inspektion und Charakterisierung

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10:28 min

July 5th, 2016

DOI :

10.3791/53630-v

July 5th, 2016


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Technik

Kapitel in diesem Video

0:05

Title

1:05

Preparations

3:52

Data Acquisition

5:38

Data Analysis for Static Measurements

6:40

Sample Preparation and Data Analysis for Dynamic Measurements

7:42

Results: CDHM Compared to Atomic Force Microscopy and Other Results

9:17

Conclusion

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